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VMZ-K6555影像测量系统高分辨率光学变焦镜头
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科汇华晟

时间 : 2025-04-16 14:52 浏览量 : 1

VMZ-K6555影像测量系统是尼康针对高精度工业检测需求推出的旗舰级设备,其高分辨率光学变焦镜头是系统的核心优势之一。以下从技术参数、功能特点、应用场景及用户评价四方面为您详细解析:


一、核心技术参数

1.变焦能力

多档变焦头:支持Type1(0.5~7.5X)、Type2(1~15X)、Type3(2~30X)、Type4(4~60X)及TZ型(1~120X)变焦头,覆盖从宏观定位到微观精密测量的全需求。

工作距离:类型1/2/3在37°斜角时达50mm,TZ型主物镜工作距离仅11mm,支持复杂结构件测量。

2.光学性能

分辨率:配备高分辨率镜头,支持1920x1080全高清图像采集(部分配置支持4K输出)。

数值孔径:Type1~3达0.35,TZ型达0.46,提升光线收集效率与成像对比度。

3.运动控制

行程范围:XYZ三轴行程达650×550×200mm,支持大型零部件检测。

定位精度:X/Y轴精度≤(1.2+4L/1000)μm,Z轴(激光对焦)≤(1.2+5L/1000)μm。


二、功能优势

1.共聚焦测量技术

同步二维+高度测量:通过共聚焦光学系统,在视场内同步完成尺寸与高度测量,效率提升50%以上。

光源升级:LED共焦光源寿命从3000小时延长至30000小时,降低维护成本。

2.智能照明系统

8段LED环形照明:支持37°/55°/75°斜角组合,适配不同材质反光特性。

暗场/透射模式:TZ型配备暗场照明,增强低对比度边缘识别能力。

3.扩展性与兼容性

接口支持:提供HDMI/USB3.0/Ethernet/WiFi多接口,支持远程控制与数据传输。

软件算法:内置自动边缘检测、温度补偿等算法,提升复杂工件测量精度。


三、典型应用场景

1.半导体制造

晶圆检测:测量光刻胶厚度、金属层线宽(精度±0.1μm)。

先进封装:芯片凸点共面性、锡球截面形状分析(支持SEMI S2/S8标准)。

2.精密加工

模具验证:检测型腔配合间隙(分辨率0.5μm)。

刀具检测:铣刀、钻头的几何参数与磨损分析。

3.汽车电子

大尺寸PCB检测:高密度电路板尺寸与焊点共面性测量。

涡轮增压器:叶片三维轮廓与间隙检测。

4.科研实验

微结构分析:MEMS器件、生物芯片的三维形貌测量。

材料测试:金属疲劳裂纹、涂层厚度的非接触检测。


四、用户评价与市场反馈

1.优势认可

效率提升:多档变焦头配置减少换镜时间,激光扫描模式提速5-8倍。

稳定性:双层抗震结构+非接触式编码器,震动抑制比>10:1。

2.改进建议

软件交互:部分用户反馈界面学习曲线较陡,需加强新手引导模块。

环境适配:高湿度环境下需额外配置除湿单元(相对湿度>65%时精度下降)。


五、选型建议

基础配置:VMZ-K6555+Type1~3变焦头→适合实验室常规检测。

高阶方案:VMZ-K6555+TZ型变焦头+激光干涉仪→满足ISO 10360-7认证需求。

特殊需求:可定制真空载物台(用于柔性电路板测量)或低温模块(-40℃环境测试)。

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